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Pharos-STEM樣品杯

Phenom Pharos STEM 臺式場發射 SEM-STEM 電子顯微鏡，配備了 STEM 樣品杯，從另一個維度提高了其成像能力和應用的多樣性

1）臺式場發射 SEM-STEM 電子顯微鏡；

2）可以在低加速電壓下獲得高襯度圖像，提供材料形貌的更多細節；
3）可以選擇明場 (BF)、暗場(DF)和高角度環形暗場(HAADF) 成像模式。

Phenom Pharos 臺式場發射掃描電鏡因其多功能性和較好的成像性能贏得了良好的口碑 —— 即使是在傳統較難觀測的樣品中也表現優異。直觀的用戶界面有助于將高分辨率圖像呈現給用戶， FEG 場發射電子源在 1-20kV 的加速電壓范圍內都提供了高分辨率。
Phenom Pharos STEM 臺式場發射 SEM-STEM 電子顯微鏡，配備了 STEM 樣品杯，從另一個維度提高了其成像能力和
應用的多樣性。Pharos STEM 電子顯微鏡，利用 FEG 高亮度電子源，可在透射模式下對薄樣品進行成像。專用的樣品夾可輕松裝載常規3mm 直徑透射電鏡（TEM）載網，實現樣品的快速、安全切換。STEM 樣品杯可提供明場 (BF) 、暗場 (DF) 和高角度環形
暗場 (HAADF) 像，并支持自定義選擇成像模式。